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氣體檢測(cè)儀中紅外線技術(shù)傳感器的檢測(cè)原理

日期:2024-10-23 08:24
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摘要: 紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。 1.比爾定律 紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律) 式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度; I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)...

    紅外線氣體分析儀,是利用紅外線進(jìn)**體分析。它基于待分析組分的濃度不同,吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測(cè)器里的溫度升高不同,動(dòng)片薄膜兩邊所受的壓力不同,從而產(chǎn)生一個(gè)電容檢測(cè)器的電信號(hào)。這樣,就可間接測(cè)量出待分析組分的濃度。


1.比爾定律 
    紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的。假定被測(cè)氣體為一個(gè)無(wú)限薄的平面.強(qiáng)度為k的紅外線垂直穿透它,則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律
式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強(qiáng)度;


           I0--紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度;
                     K--待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù);  
 C--待分析組分的氣體濃度;
        L--氣室長(zhǎng)度(赦測(cè)氣體層的厚度)
      對(duì)于一臺(tái)制造好了的紅外線氣體分析儀,其測(cè)量組分已定,即待分析組分對(duì)輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,即紅外線通過(guò)介質(zhì)前的輻射強(qiáng)度I0一定;氣室長(zhǎng)度L一定。從比爾定律可以看出:通過(guò)測(cè)量輻射能量的衰減I,就可確定待分析組分的濃度C了。
2.分析檢測(cè)原理

       紅外線氣體分析儀由兩個(gè)獨(dú)立的光源分別產(chǎn)生兩束紅外線,該射線束分別經(jīng)過(guò)調(diào)制器,成為5Hz的射線。根據(jù)實(shí)際需要,射線可通過(guò)一濾光鏡減少背景氣體中其它吸收紅外線的氣體組分的干擾。


    紅外線通過(guò)兩個(gè)氣室,一個(gè)是充以不斷流過(guò)的被測(cè)氣體的測(cè)量室,另一個(gè)是充以無(wú)吸收性質(zhì)的背景氣體的參比室。工作時(shí),當(dāng)測(cè)量室內(nèi)被測(cè)氣體濃度變化時(shí),吸收的紅外線光量發(fā)生相應(yīng)的變化,而基準(zhǔn)光束(參比室光束)的光量不發(fā)生變化。從二室出來(lái)的光量差通過(guò)檢測(cè)器,使檢測(cè)器產(chǎn)生壓力差,并變成電容檢測(cè)器的電信號(hào)。此信號(hào)經(jīng)信號(hào)調(diào)節(jié)電路放大處理后,送往顯示器以及總控的CRT顯示。該輸出信號(hào)的大小與被測(cè)組分濃度成比例。



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